量子效率測試儀的這些知識值得我們學習

 　　量子效率測試儀(yi) 測試方法與(yu) 步驟：

　　（1）將待測CCD芯片和標準探測器，以及它們(men) 各自的驅動電路放置在暗室中，並調節測量係統各部分儀(yi) 器的參數。打開光源的開關(guan) ，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀(yi) 開關(guan) ，打開皮安表開關(guan) 和移動位移台的開關(guan) 。

　　（2）通過上位機程序控製待測CCD芯片電子快門，調整CCD芯片的積分時間來控製CCD芯片的曝光時間和曝光量。（一般調好不用管）。

　　（3）調節移動位移台，將標準件調到和激光光斑重合處（目前大約41500）。

　　（4）記錄皮安表的數值，查表，找出對應波長的數值，用皮安表的數值除以查表得出的值，得出功率值。（正好皮安對皮瓦）

　　（5）蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設備，連續采圖，設置參數中輸入對應波長，功率值後。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。

　　（6）調節移動位移台，將CCD工業(ye) 相機調到激光光斑重合處，（目前大約是回到原點）。

　　（7）揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設置參數中輸入對應波長，功率值後，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。

　　（8）記錄量子效率測試儀(yi) 的量子效率值。